เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD)PANalytical
X’Pert PRO MPD
เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD)
PANalytical
X’Pert PRO MPD
ราคาคงที่ ยังไม่รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม
€13,500
สภาพ
ใช้แล้ว
ที่ตั้ง
Borken 

รูปภาพแสดงให้เห็น
แสดงแผนที่
ข้อมูลเกี่ยวกับเครื่องจักร
- ชื่อเครื่องจักร:
- เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD)
- ผู้ผลิต:
- PANalytical
- รุ่น:
- X’Pert PRO MPD
- สภาพ:
- ใช้แล้ว
ราคาและสถานที่
ราคาคงที่ ยังไม่รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม
€13,500
- ที่ตั้ง:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

โทร
รายละเอียดข้อเสนอ
- รหัสประกาศ:
- A19531791
- หมายเลขอ้างอิง:
- 24688
- อัปเดต:
- อัปเดตล่าสุดเมื่อ 10.07.2568
คำอธิบาย
PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD X-ray Diffractometer (XRD)
Excerpt from the service report:
Device: PANalytical X’Pert PRO MPD
Report date: 07.07.2021
Work performed:
- Reinstallation and commissioning of the system
- Connection of external supply lines
- Warm-up phase
- Complete alignment of goniometer and additional components
- Maintenance carried out, including replacement of defective parts
Spare parts used:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD
FAN FOR X-CELERATOR UNIT
FILTER, WATER
Motor PW3050
("Device was not tested in-house")
The X’Pert PRO MPD is a highly versatile and powerful X-ray diffractometer (XRD) designed for structural characterization of crystalline materials. It is ideal for pure research as well as routine applications in industry and academia. Thanks to its modular design, fast detection, and control of temperature and atmosphere, it is excellently suited for both routine analyses and complex in-situ experiments.
Key features:
- Multiple measurement geometries possible:
- Reflection measurements in Bragg-Brentano (θ–2θ) mode
- Transmission geometry for powders in capillaries
- Optional SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) for nanostructure analysis
- Radiation source and detectors:
- Typically copper anode (Cu-Kα, λ ≈ 1.54 Å)
- X’Celerator detector (1D, ultra-fast) for parallel data acquisition
- Modular system with PreFIX technology:
- Rapid change of optics and sample stages without recalibration
- In-situ measurements at high temperatures:
- Measurements up to approx. 1200°C possible
- Controlled atmosphere: air, nitrogen, oxygen (limited for reducing atmospheres)
Typical applications:
- Phase analysis and quantitative Rietveld refinement
- Determination of crystallite size, microstrain, residual stress
- In-situ investigation of phase transitions, oxidation, crystallization, etc.
- SAXS measurements for analysis of nanoparticles and pore structures
- Broad range of sample types: powders, thin films, ceramics, pharmaceuticals, catalysts, and more
Technical data (typical)
Property & Specification
Angle range (2θ): approx. 0.5° to 150°
Step size: up to 0.002° or finer
Goniometer: vertical, 0–0, radius approx. 240 mm
Temperature range: room temperature up to approx. 1200°C
Atmosphere: air, N₂, O₂ (limited for reducing atmospheres)
Detectors: X’Celerator (1D), proportional counter
Distribution & application areas:
The X’Pert PRO MPD is in use worldwide at, for example:
- Universities (ETH Zurich, TU Dresden, University of Vienna)
- Research institutes (e.g., Max Planck Institutes, ICN2, IS2M)
- Industry (e.g., materials development, pharmaceuticals, chemistry)
Condition: used
Kdsdpfxswycato Ag Dow
Scope of delivery: (See image)
(Specifications and technical data subject to change and error!)
For further questions, we are happy to assist you by phone.
โฆษณานี้ได้รับการแปลโดยอัตโนมัติ อาจมีข้อผิดพลาดในการแปลได้
PANalytical X’Pert PRO MPD X-ray Diffractometer (XRD)
Excerpt from the service report:
Device: PANalytical X’Pert PRO MPD
Report date: 07.07.2021
Work performed:
- Reinstallation and commissioning of the system
- Connection of external supply lines
- Warm-up phase
- Complete alignment of goniometer and additional components
- Maintenance carried out, including replacement of defective parts
Spare parts used:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD
FAN FOR X-CELERATOR UNIT
FILTER, WATER
Motor PW3050
("Device was not tested in-house")
The X’Pert PRO MPD is a highly versatile and powerful X-ray diffractometer (XRD) designed for structural characterization of crystalline materials. It is ideal for pure research as well as routine applications in industry and academia. Thanks to its modular design, fast detection, and control of temperature and atmosphere, it is excellently suited for both routine analyses and complex in-situ experiments.
Key features:
- Multiple measurement geometries possible:
- Reflection measurements in Bragg-Brentano (θ–2θ) mode
- Transmission geometry for powders in capillaries
- Optional SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) for nanostructure analysis
- Radiation source and detectors:
- Typically copper anode (Cu-Kα, λ ≈ 1.54 Å)
- X’Celerator detector (1D, ultra-fast) for parallel data acquisition
- Modular system with PreFIX technology:
- Rapid change of optics and sample stages without recalibration
- In-situ measurements at high temperatures:
- Measurements up to approx. 1200°C possible
- Controlled atmosphere: air, nitrogen, oxygen (limited for reducing atmospheres)
Typical applications:
- Phase analysis and quantitative Rietveld refinement
- Determination of crystallite size, microstrain, residual stress
- In-situ investigation of phase transitions, oxidation, crystallization, etc.
- SAXS measurements for analysis of nanoparticles and pore structures
- Broad range of sample types: powders, thin films, ceramics, pharmaceuticals, catalysts, and more
Technical data (typical)
Property & Specification
Angle range (2θ): approx. 0.5° to 150°
Step size: up to 0.002° or finer
Goniometer: vertical, 0–0, radius approx. 240 mm
Temperature range: room temperature up to approx. 1200°C
Atmosphere: air, N₂, O₂ (limited for reducing atmospheres)
Detectors: X’Celerator (1D), proportional counter
Distribution & application areas:
The X’Pert PRO MPD is in use worldwide at, for example:
- Universities (ETH Zurich, TU Dresden, University of Vienna)
- Research institutes (e.g., Max Planck Institutes, ICN2, IS2M)
- Industry (e.g., materials development, pharmaceuticals, chemistry)
Condition: used
Kdsdpfxswycato Ag Dow
Scope of delivery: (See image)
(Specifications and technical data subject to change and error!)
For further questions, we are happy to assist you by phone.
โฆษณานี้ได้รับการแปลโดยอัตโนมัติ อาจมีข้อผิดพลาดในการแปลได้
ผู้จัดหา
หมายเหตุ: ลงทะเบียนฟรีหรือเข้าสู่ระบบ, เพื่อเข้าถึงข้อมูลทั้งหมด
ลงทะเบียนตั้งแต่: 2012
ส่งคำขอ
โทรศัพท์ & แฟกซ์
+49 2861 ... โฆษณา
โฆษณาเหล่านี้อาจน่าสนใจสำหรับคุณด้วยเช่นกัน
โฆษณาขนาดเล็ก
Borken
8,913 km
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
โฆษณาขนาดเล็ก
Zheng Zhou Shi
2,420 km
เส้นการขึ้นรูปม้วน
Rod ball mill / Rod Grinding MillFor Sand and mining beneficiation plant
Rod ball mill / Rod Grinding MillFor Sand and mining beneficiation plant
โฆษณาขนาดเล็ก
Dinklage
8,812 km
เครื่องแยกม้วน เครื่องตัดม้วน กิโยติน
KlankeRGS25A
KlankeRGS25A
โฆษณาขนาดเล็ก
Zheng Zhou Shi
2,420 km
โรงสีปูนซิเมนต์,โรงบดปูนเม็ด
Clinker grinding mill / cement ball millcement grinding with air classifier
Clinker grinding mill / cement ball millcement grinding with air classifier
โฆษณาขนาดเล็ก
Hamburg
8,669 km
ระบบตรวจสอบเอ็กซ์เรย์
AMTECXRI 410HS
AMTECXRI 410HS
โฆษณาขนาดเล็ก
Borken
8,913 km
เครื่องวิเคราะห์การเรืองแสงด้วยรังสีเอกซ์
Oxford InstrumentsX-Strata 960
Oxford InstrumentsX-Strata 960
โฆษณาขนาดเล็ก
Braak
8,652 km
เอกซเรย์ AOI 3D
GÖPELX Line 3D AOI/AXI
GÖPELX Line 3D AOI/AXI
โฆษณาขนาดเล็ก
เยอรมนี
8,687 km
ระบบตรวจสอบเอ็กซเรย์อัตโนมัติเต็มรูปแบบ
AnritsuXR 75 (KXS7522AVCLE)
AnritsuXR 75 (KXS7522AVCLE)
โฆษณาขนาดเล็ก
Borken
8,918 km
การวัดความหนาของชั้นด้วยฟลูออเรสเซนซ์รังสีเอกซ์
Helmut Fischer FischerscopeXDL- XYmZ
Helmut Fischer FischerscopeXDL- XYmZ
โฆษณาขนาดเล็ก
Budapest
8,125 km
เครื่องวิเคราะห์สารเคมี
BayerAdvia 1650
BayerAdvia 1650
ประกาศของคุณถูกลบเรียบร้อยแล้ว
เกิดข้อผิดพลาด











































































